OCXO和TCXO振蕩器的穩(wěn)定性降解
來源:http://m.netflixyz.com 作者:金洛鑫電子 2019年09月07
許多數(shù)字應(yīng)用依靠冷卻系統(tǒng)將工作溫度保持在設(shè)計限制范圍內(nèi),對于工業(yè)應(yīng)用,通常為-40°C至+85°C.但冷卻系統(tǒng)可能會出現(xiàn)故障,例如風扇出現(xiàn)故障,這可能導(dǎo)致環(huán)境溫度升高到系統(tǒng)設(shè)計極限以上,在某些情況下會導(dǎo)致極端值達到或超過+125°C.理想情況下,系統(tǒng)應(yīng)在這些故障條件下保持正常運行.持續(xù)運行對于許多系統(tǒng)而言可能是至關(guān)重要的,例如蜂窩基站應(yīng)維持基本服務(wù)以支持緊急呼叫.因此系統(tǒng)設(shè)計人員應(yīng)選擇組件以實現(xiàn)最大可靠性.任何數(shù)字系統(tǒng)中最重要的組件之一是石英晶體振蕩器.它為整個系統(tǒng)提供同步信號,因此有時被稱為“系統(tǒng)的心跳”.就像人體中的心臟一樣,振蕩器的故障將導(dǎo)致整個系統(tǒng)失效.
汽車級晶體振蕩器(XO)可以在高達+125°C的溫度下工作,并且可以滿足許多應(yīng)用的要求.但是,溫度控制晶體振蕩器(TCXO)和恒溫控制晶體振蕩器(OCXO)等精密振蕩器在+85°C以上工作是很少見的,很難找到.對于某些應(yīng)用,例如同步以太網(wǎng)(SyncE),IEEE1588以及為蜂窩基站提供回程服務(wù)的電信邊界/從時鐘,了解這些設(shè)備如何在其額定溫度范圍之外運行以確定何種應(yīng)用非常重要在故障條件下系統(tǒng)可以維持服務(wù)的程度.為此,本應(yīng)用筆記提供了在超過+70°C/+85°C的溫度下各種TCXO溫補晶振和OCXO恒溫晶振行為的數(shù)據(jù)和分析,基于兩種技術(shù)的測試設(shè)備:MEMS(微機電系統(tǒng))和傳統(tǒng)石英.
石英基TCXO晶振和OCXO晶振的穩(wěn)定性降解:
SiTime晶振基于MEMS的TCXO和OCXO器件以及基于石英的TCXO和OCXO器件在溫度上限以外進行了測試,以研究它們的行為.額定溫度為+85°C的TCXO器件測試溫度為+125°C;額定溫度為+70°C的器件測試溫度為+105°C.額定溫度為+85°C的OCXO器件測試溫度為+105°C.
圖1-2和圖5-6顯示了TCXO器件的穩(wěn)定性結(jié)果.石英基器件的穩(wěn)定性在額定溫度限制之外迅速降低.在+125°C時,頻率變化率從+85°C至+95°C之間的10ppb/°C增加至近3000ppb/°C(參見圖3-4和7-8).相比之下,基于MEMS的SiTimeElitePlatformSuper-TCXO溫補晶振器件(SiT5356)優(yōu)雅地改變頻率,其頻率與溫度斜率(F/T)相比優(yōu)于2ppb/°C,最高可達+105°C,并且僅增加到在+125°C時為8ppb/°C.從+85°C到125°C的總頻率變化僅為50ppb.
圖2:TCXO從+85°C到+125°C的穩(wěn)定性.值是指+85°C時的頻率偏移.
DUT:5個工業(yè)溫度額定TCXO設(shè)備,水平放大.
圖3:TCXO頻率與溫度斜率從+85°C到+125°C.值是指+85°C時的頻率偏移.
DUT:5個工業(yè)溫度額定TCXO設(shè)備.
圖5:TCXO在+70°C至+105°C范圍內(nèi)的穩(wěn)定性.值是指+70°C時的頻率偏移.
DUT:2個商用溫度額定TCXO溫補晶振設(shè)備
圖6:從+70°C到+105°C的TCXO穩(wěn)定性.值是指+70°C時的頻率偏移.
DUT:2個商用溫度額定TCXO設(shè)備.水平放大.
圖7:TCXO頻率與溫度斜率從+70°C到+105°C.
DUT:2個商用溫度范圍的TCXO設(shè)備.
圖9:OCXO從+85°C到+105°C的穩(wěn)定性.值是指+85°C時的頻率偏移.
DUT:4個工業(yè)溫度額定值的OCXO器件.
圖10:OCXO性能從+85°C到+105°C.值是指+85°C時的頻率偏移.
DUT:4個工業(yè)溫度額定值的OCXO器件.水平放大.
圖11:OCXO頻率與溫度斜率從+85°C到+105°C.
DUT:4個工業(yè)溫度額定值的OCXO器件.
系統(tǒng)影響:
TCXO和OCXO是高精度器件,溫補振蕩器的穩(wěn)定性達到50ppb級,Stratum3E級OCXO的穩(wěn)定性達到5ppb級.這些設(shè)備用于需要高穩(wěn)定性頻率參考且對系統(tǒng)性能至關(guān)重要的蜂窩基站等應(yīng)用.由于冷卻系統(tǒng)故障以及溫度升高到工作溫度范圍以上的可能性,非常希望在這些事件期間保持一定水平的系統(tǒng)功能.除了涵蓋故障情況外,OCXO和TCXO的擴展溫度操作可以實現(xiàn)更加可靠的系統(tǒng),根本不需要冷卻風扇.
本應(yīng)用筆記中顯示的測試結(jié)果清楚地表明,SiTime時序解決方案是容錯和擴展溫度系統(tǒng)的最佳選擇.如果溫度超出額定范圍,基于石英晶振的解決方案會迅速失去穩(wěn)定性.在SyncE應(yīng)用程序的情況下,這種穩(wěn)定性降級可能有幾個含義,具體取決于降級的嚴重程度.對于本地振蕩器的大ppm級降級,PLL可能會解鎖,導(dǎo)致完全同步丟失和系統(tǒng)故障,包括掉線和數(shù)據(jù)丟失.頻率穩(wěn)定性的降低也意味著可比較的頻率斜率增加.本地振蕩器每1°C的溫度變化會更快地改變頻率.這意味著在通過低帶寬PLL(如SyncEPLL)跟蹤之前會累積更多錯誤.這導(dǎo)致了數(shù)據(jù)傳輸中的規(guī)范和多次滑動.
對于IEEE1558應(yīng)用,這種頻率斜率降低表現(xiàn)為動態(tài)時間誤差降級.時間誤差累積的速度比低帶寬IEEE1588環(huán)路能夠趕上并且超出規(guī)格.對于基站,這會導(dǎo)致呼叫掉線或呼叫質(zhì)量下降.通常,由于冷卻系統(tǒng)故障導(dǎo)致的快速溫度升高將使高頻與溫度斜率轉(zhuǎn)換為高頻率與時間斜率,這將導(dǎo)致許多系統(tǒng)的故障.同步應(yīng)用,如SyncE和IEEE1588,對系統(tǒng)時鐘頻率變化具有高通頻率響應(yīng),溫補晶振系統(tǒng)時鐘頻率的快速變化將不會被跟蹤,并將對SyncE PLL輸出頻率和整體系統(tǒng)性能產(chǎn)生直接的有害影響.
與石英器件相比,SiTime基于MEMS的Elite平臺Super-TCXO和Emerald Platform Stratum3E OCXO具有優(yōu)雅的低F/T變化.即使溫度變化,也可以避免大的頻率瞬變.即使在額定溫度范圍之外運行,低穩(wěn)定性降級也可以防止系統(tǒng)解鎖并在時間誤差規(guī)范內(nèi)保持性能.這種對高溫和快速熱變化的抵抗力以及對MEMS 0scillator的沖擊和振動的固有彈性,使這些定時解決方案能夠保持額定穩(wěn)定性并提供連續(xù)的系統(tǒng)操作.
汽車級晶體振蕩器(XO)可以在高達+125°C的溫度下工作,并且可以滿足許多應(yīng)用的要求.但是,溫度控制晶體振蕩器(TCXO)和恒溫控制晶體振蕩器(OCXO)等精密振蕩器在+85°C以上工作是很少見的,很難找到.對于某些應(yīng)用,例如同步以太網(wǎng)(SyncE),IEEE1588以及為蜂窩基站提供回程服務(wù)的電信邊界/從時鐘,了解這些設(shè)備如何在其額定溫度范圍之外運行以確定何種應(yīng)用非常重要在故障條件下系統(tǒng)可以維持服務(wù)的程度.為此,本應(yīng)用筆記提供了在超過+70°C/+85°C的溫度下各種TCXO溫補晶振和OCXO恒溫晶振行為的數(shù)據(jù)和分析,基于兩種技術(shù)的測試設(shè)備:MEMS(微機電系統(tǒng))和傳統(tǒng)石英.
石英基TCXO晶振和OCXO晶振的穩(wěn)定性降解:
SiTime晶振基于MEMS的TCXO和OCXO器件以及基于石英的TCXO和OCXO器件在溫度上限以外進行了測試,以研究它們的行為.額定溫度為+85°C的TCXO器件測試溫度為+125°C;額定溫度為+70°C的器件測試溫度為+105°C.額定溫度為+85°C的OCXO器件測試溫度為+105°C.
圖1-2和圖5-6顯示了TCXO器件的穩(wěn)定性結(jié)果.石英基器件的穩(wěn)定性在額定溫度限制之外迅速降低.在+125°C時,頻率變化率從+85°C至+95°C之間的10ppb/°C增加至近3000ppb/°C(參見圖3-4和7-8).相比之下,基于MEMS的SiTimeElitePlatformSuper-TCXO溫補晶振器件(SiT5356)優(yōu)雅地改變頻率,其頻率與溫度斜率(F/T)相比優(yōu)于2ppb/°C,最高可達+105°C,并且僅增加到在+125°C時為8ppb/°C.從+85°C到125°C的總頻率變化僅為50ppb.
DUT:5個工業(yè)溫度額定TCXO設(shè)備.
圖2:TCXO從+85°C到+125°C的穩(wěn)定性.值是指+85°C時的頻率偏移.
DUT:5個工業(yè)溫度額定TCXO設(shè)備,水平放大.
圖3:TCXO頻率與溫度斜率從+85°C到+125°C.值是指+85°C時的頻率偏移.
DUT:5個工業(yè)溫度額定TCXO設(shè)備.
圖5:TCXO在+70°C至+105°C范圍內(nèi)的穩(wěn)定性.值是指+70°C時的頻率偏移.
DUT:2個商用溫度額定TCXO溫補晶振設(shè)備
圖6:從+70°C到+105°C的TCXO穩(wěn)定性.值是指+70°C時的頻率偏移.
DUT:2個商用溫度額定TCXO設(shè)備.水平放大.
圖7:TCXO頻率與溫度斜率從+70°C到+105°C.
DUT:2個商用溫度范圍的TCXO設(shè)備.
圖8:TCXO頻率與溫度斜率從+70°C到+105°C.在測試OCXO晶振設(shè)備時觀察到類似的行為(見圖9-10).在溫度超出額定溫度范圍4°C至8°C后,石英基器件的穩(wěn)定性開始下降.ΔF/ΔT從3ppb/°C降至30ppb/°C(見圖11-12).相比之下,基于MEMS的SiTimeEmeraldPlatformOCXO(SiT5711)器件的額定穩(wěn)定性可達+105°C,頻率斜率小于0.5ppb/°C.
圖9:OCXO從+85°C到+105°C的穩(wěn)定性.值是指+85°C時的頻率偏移.
DUT:4個工業(yè)溫度額定值的OCXO器件.
圖10:OCXO性能從+85°C到+105°C.值是指+85°C時的頻率偏移.
DUT:4個工業(yè)溫度額定值的OCXO器件.水平放大.
圖11:OCXO頻率與溫度斜率從+85°C到+105°C.
DUT:4個工業(yè)溫度額定值的OCXO器件.
TCXO和OCXO是高精度器件,溫補振蕩器的穩(wěn)定性達到50ppb級,Stratum3E級OCXO的穩(wěn)定性達到5ppb級.這些設(shè)備用于需要高穩(wěn)定性頻率參考且對系統(tǒng)性能至關(guān)重要的蜂窩基站等應(yīng)用.由于冷卻系統(tǒng)故障以及溫度升高到工作溫度范圍以上的可能性,非常希望在這些事件期間保持一定水平的系統(tǒng)功能.除了涵蓋故障情況外,OCXO和TCXO的擴展溫度操作可以實現(xiàn)更加可靠的系統(tǒng),根本不需要冷卻風扇.
本應(yīng)用筆記中顯示的測試結(jié)果清楚地表明,SiTime時序解決方案是容錯和擴展溫度系統(tǒng)的最佳選擇.如果溫度超出額定范圍,基于石英晶振的解決方案會迅速失去穩(wěn)定性.在SyncE應(yīng)用程序的情況下,這種穩(wěn)定性降級可能有幾個含義,具體取決于降級的嚴重程度.對于本地振蕩器的大ppm級降級,PLL可能會解鎖,導(dǎo)致完全同步丟失和系統(tǒng)故障,包括掉線和數(shù)據(jù)丟失.頻率穩(wěn)定性的降低也意味著可比較的頻率斜率增加.本地振蕩器每1°C的溫度變化會更快地改變頻率.這意味著在通過低帶寬PLL(如SyncEPLL)跟蹤之前會累積更多錯誤.這導(dǎo)致了數(shù)據(jù)傳輸中的規(guī)范和多次滑動.
對于IEEE1558應(yīng)用,這種頻率斜率降低表現(xiàn)為動態(tài)時間誤差降級.時間誤差累積的速度比低帶寬IEEE1588環(huán)路能夠趕上并且超出規(guī)格.對于基站,這會導(dǎo)致呼叫掉線或呼叫質(zhì)量下降.通常,由于冷卻系統(tǒng)故障導(dǎo)致的快速溫度升高將使高頻與溫度斜率轉(zhuǎn)換為高頻率與時間斜率,這將導(dǎo)致許多系統(tǒng)的故障.同步應(yīng)用,如SyncE和IEEE1588,對系統(tǒng)時鐘頻率變化具有高通頻率響應(yīng),溫補晶振系統(tǒng)時鐘頻率的快速變化將不會被跟蹤,并將對SyncE PLL輸出頻率和整體系統(tǒng)性能產(chǎn)生直接的有害影響.
與石英器件相比,SiTime基于MEMS的Elite平臺Super-TCXO和Emerald Platform Stratum3E OCXO具有優(yōu)雅的低F/T變化.即使溫度變化,也可以避免大的頻率瞬變.即使在額定溫度范圍之外運行,低穩(wěn)定性降級也可以防止系統(tǒng)解鎖并在時間誤差規(guī)范內(nèi)保持性能.這種對高溫和快速熱變化的抵抗力以及對MEMS 0scillator的沖擊和振動的固有彈性,使這些定時解決方案能夠保持額定穩(wěn)定性并提供連續(xù)的系統(tǒng)操作.
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