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首頁金洛博客 6G常用晶體振蕩器的處理和測試C5S-19.000-18-3030-R

6G常用晶體振蕩器的處理和測試C5S-19.000-18-3030-R

來源：http://m.netflixyz.com 作者：金洛鑫 2023年06月25

本篇文章主要提供了與晶體振蕩器測試相關的一些常見問題的答案。

1. ESD(靜電敏感器件)處理

晶體振蕩器是靜電敏感器件，避免用手指直接接觸端子。必須按照IEC 61340-5-1和EN 100015-1建立的ESD處理規(guī)則進行正確的處理，以避免靜電損壞內部電路而導致振蕩器性能下降。如果沒有特別說明，我們的振蕩器符合根據(jù)IEC 61000-4-2的人體模型(HBM)的要求。

2. 處理

在操作過程中以及手動和自動組裝過程中，必須避免過度的機械沖擊。如果振蕩器無意中被摔落或受到強烈沖擊，應驗證其電氣功能是否仍在規(guī)范范圍內。

3.電力供應

為避免電勢失控，石英晶體振蕩器應在所有端子連接正確后才上電。必須避免將“熱插入”到已經(jīng)連接到電源的夾具中，

極性錯誤或電源電壓過高會對振蕩器造成永久性損壞。

強烈建議在振蕩器的直流電源輸入(VCC)端子和接地(GND)端子之間增加一個或兩個接線最短的阻塞電容。典型值為10nf (X7R)和100pf (C0G)。µF范圍內的額外散裝電容器可以插入電路板上的任何位置，良好的工程實踐是使用接地和供電電壓平面(多層)印刷電路板。

如果振蕩器輸出信號的低相位噪聲是一個問題，在選擇低噪聲、低雜散的電源時必須特別注意。對于參考測量，強烈建議使用電池操作。

4. 輸出功率
a.正弦波輸出50 Ω終止

50 Ω終端應直接連接在RF輸出端或50 Ω同軸電纜的末端。如果需要多個連接(例如到示波器或功率計和頻率計數(shù)器)，則應使用50 Ω功率分配器或耦合器。為了精確的幅度測量，必須確保測試儀器的輸入阻抗精確地為50 Ω，且駐波比在規(guī)定的范圍內。對于某些示波器和頻率計數(shù)器來說，情況并非如此。在這種情況下，應在儀器輸入端插入10db衰減器b.單方波(邏輯)輸出

i.TTL輸出
CL = 5 pF per gate (fan-out). It includes the input capacitance of the probe or oscilloscope
ii.(H)CMOS和LVCMOS輸出

CL = 15 pF or 50 pF, depends on the specification. It includes the input capacitance of the probe or oscilloscope
c.兩個互補的方波輸出

i.PECL輸出

ii.LVDS輸出

注意：同軸電纜，其端接不以其標稱阻抗(通常50 Ω)會造成輸出信號的失真和退化，原因有兩個
-阻抗失配會產生反射，從而導致波形失真。對方波邏輯輸出信號的影響尤其顯著。
-非端接同軸電纜對地的輸入阻抗約為100pf /米(只要電纜長度比四分之一波長小)。該電容與所連接設備(如測試儀器)的輸入電容相連接，產生電容性過載條件，從而使輸出電壓失真和退化。
5. 電子頻率控制(EFC)
為電子頻率控制(EFC)提供手段的晶體振蕩器必須正確連接，以確保在規(guī)定的公差范圍內以標稱頻率運行。在任何情況下都應該避免EFC (VC)輸入浮動。
a.外部控制電壓
如果EFC輸入由外部直流控制電壓饋送，則必須注意，通過直接在VC和進口晶體振蕩器的接地(GND)端子之間施加控制電壓來避免帶有直流電源電流的接地回路。
注意:來自EFC電源的噪聲可能會降低射頻信號的相位噪聲和抖動性能。因此，電池或超低噪聲直流電源對于精確的相位噪聲和抖動測量是必要的。為避免噪音進入EFC端口，EFC引腳不應保持浮動打開狀態(tài)。
b.外部電位器
如果外部電位器用于頻率控制，其電阻應低于EFC (VC)輸入的輸入阻抗至少五倍。
某些振蕩器(TCXO和OCXO)提供單獨的參考電壓輸出(VREF)端子，用于提供頻率控制電位器。該參考電壓具有低噪聲，并且在制造過程中的溫度補償過程中考慮了其對溫度的穩(wěn)定性。連接方案如下所示：

電位器POT應該是低噪聲(金屬陶瓷或金屬薄膜)類型，其電阻值必須選擇這樣，即不超過VREF輸出的最大允許電流損耗。10 kΩ在大多數(shù)情況下是合適的，強烈建議在VC輸入處附加濾波。
6. 溫度下頻率穩(wěn)定性測試
重要的定義
工作溫度范圍:振蕩器保持規(guī)格的溫度范圍。
可工作溫度范圍:振蕩器仍可工作的溫度范圍，但可能超過某些參數(shù)。
  • 頻率對溫度穩(wěn)定性：在額定電壓和負載條件下，在工作溫度范圍內振蕩器頻率的最大偏差，沒有隱含參考，其他條件不變。
    • f-T stability = ±(fmax-fmin)/(fmax+fmin)
    初始頻率-溫度精度:振蕩器頻率的最大偏差是指在標稱電源和負載條件下，在工作溫度范圍內的標稱頻率，其他條件不變。
f-T accuracy = ± MAX[δfmax,δfmin],
where δfmax = |(fmax-fnom)/fnom|
δfmin = |(fmin-fnom)/fnom|
注:對于SPXO和VCXO，有時頻率在參考溫度下使用fref(25°C)代替fnom作為參考
測試程序：一種用于評估產品、系統(tǒng)或組件性能的標準化過程，通常包括一系列特定的測試步驟、條件和評估標準。
振蕩器應承受2米/秒至3米/秒的適度空氣循環(huán)。這對于測量OCXO尤其重要。如果在靜止空氣中測量，如果腔室溫度接近工作溫度范圍的上限，則內部烘箱的溫度控制可能不再正常工作。對于PXO和VCXO，溫度斜坡應小于5K/min，且小于對于OCXO和具有較高熱質量的裝置1K/min。應通過適當?shù)慕輹r間使腔室穩(wěn)定在規(guī)定的溫度下，輸出頻率(和振幅)的測量應在達到熱平衡后以足夠的精度和分辨率進行。
7.相位噪聲測試
為了獲得準確的結果，必須采取一些預防措施
a.電源電壓應具有低噪聲。避免使用開關電源(PSU)。建議使用電池操作。推薦使用>100µF的高電容阻斷電容。
b.電子頻率控制(EFC)輸入對噪聲非常敏感，因為它直接調制晶體振蕩器級。因此控制電壓(VC)必須來自極低噪音的直流電源，最好是電池。一些相位噪聲測試儀器提供了一個合適的噪聲源?？刂齐妷簯ㄟ^屏蔽(同軸)電纜連接。如果振蕩器包含參考電壓(VREF)輸出，則強烈建議根據(jù)第5b段所示的電路從中導出控制電壓，或者，VC輸入可以連接到地引腳。
c.為避免環(huán)境雜散響應的干擾，建議將被測設備放置在電磁屏蔽柜中。
d.由于其固有的壓電性，振蕩器中的晶體單元對任何機械振動都非常敏感。因此，被測振蕩器不應與被測設備放在同一臺，因為它的振動是由風扇和變壓器引起的。
e.如果必須測量非常低的本底噪聲級，則必須注意測試儀器的本底噪聲足夠低，并且相關的數(shù)量足夠高(在互相關測試模式下)。
8. 短期穩(wěn)定性檢驗
短期穩(wěn)定性的推薦指標是所謂的艾倫偏差(ADEV)或重疊艾倫偏差(OADEAV)。參見IEC 62884-4。
現(xiàn)代高分辨率計數(shù)器的使用可能由于內部插值過程而導致錯誤的結果。為避免干擾和觸發(fā)錯誤，必須采取以下預防措施:
-在測試裝置中避免接地回路
-使用相穩(wěn)定電纜
-通過方波產生，被測信號必須具有快速的上升和衰減時間，并具有較低的附加抖動和遲滯
-對于電源電壓和控制電壓，必須考慮與相位噪聲測量相同的考慮因素(見第7段)
-環(huán)境溫度必須盡可能穩(wěn)定。強烈建議對環(huán)境和氣流進行隔熱，必須嚴格避免噪音和振動
-當被測振蕩器的電磁靈敏度較高時，可能需要對被測振蕩器進行電磁屏蔽
在計算分析之前，應該對數(shù)據(jù)集進行一致性檢查。如果確定這些異常值，即相位或頻率跳變是由外部影響引起的，而不是來自信號發(fā)生器，則應識別并去除這些異常值。
在開始數(shù)據(jù)采集之前，振蕩器必須在較長的穩(wěn)定時間內連續(xù)工作。溫度穩(wěn)定振蕩器(OCXO)需要比其他振蕩器類型(SPXO, VCXO和TCXO)更長的穩(wěn)定時間。根據(jù)經(jīng)驗，穩(wěn)定的標準值應不少于12小時，對于OCXO和其他參考測量，被測振蕩器應至少穩(wěn)定24小時。
9. 頻率老化試驗
振蕩器應連續(xù)30天保持在規(guī)定的溫度、公差和穩(wěn)定性。插入烘箱后，應使振蕩器與室內空氣溫度保持平衡。然后振蕩器應通電并穩(wěn)定1小時，然后開始測量采集周期。振蕩器的初始頻率應在穩(wěn)定期(1小時)后立即測量，此后每隔不超過72小時測量一次(每次最長間隔為96小時除外30天的期限是允許的)，至少30天。老化溫度為+70℃或規(guī)定的最高工作溫度，以較低者為準。
在插入烤箱后，晶體振蕩器在開始測量采集前應在老化溫度下穩(wěn)定48小時(除非另有規(guī)定)。每個單元的頻率應在穩(wěn)定期后立即測量，然后每周至少測量四次，間隔至少為20小時。
a.非溫度穩(wěn)定振蕩器的老化試驗
-至少通電一小時
-在參考溫度下的初始頻率測量，例如25°C
−在Toven(如85°C或TBD)的烤箱中儲存，但不高于最高可操作溫度。
−1、2、5、10、20天后的中間測量。
−測量時，請將振蕩器從烤箱中取出，在室溫下保存1小時，以免溫度沖擊
−參考溫度下測量頻率
−頻率@參考溫度30天后的最終測量
b.OCXO老化試驗
-OCXO保持在室溫下
−至少上電2小時。
−中間頻率測量每周5次(AXTAL:每小時1次)。
−30天后頻率的最終測量。
−從第3天開始的數(shù)據(jù)進行擬合和評估。
所獲得的測量值應使用最小二乘法擬合下列函數(shù)之一:
− Logarithmic Fit: f(t)Log = a0 + a1· log (a2· t + 1)
− Polynomial Fit: f(t)Poly = a0 + a1 · t + a2 · t 0.5,
其中f(t)為晶體振蕩器的頻率，老化周期開始后的第t天，a0, a1, a2是由最小二乘擬合確定的常數(shù)。
在規(guī)定周期結束時，總頻率變化和老化率應使用最小二乘擬合確定的常數(shù)由上式確定。
一段時間內預計的總頻率變化應按以下公式計算:
− Aging per day (aging rate) = f(d0 + 1) - f(d0)
− Aging per month = f(d0 + 30) - f(d0)
− Aging per year = f(d0 + 365) - f(d0),
其中f(t)為老化近似a)或b)中的一個，擬合參數(shù)為a0、a1、a2, d0為老化試驗的最后一天加30天。
注意：通常使用相對頻率?f/f (ppm或ppb)代替頻率f (Hz)。
10. 根據(jù)MIL-PRF-55310進行篩選
對高可靠性振蕩器進行了100%篩選試驗。對于高可靠性空間應用，采用S級篩選，對于其他高可靠性應用，采用B級篩選。對于第1類振蕩器(離散技術)和第3類振蕩器(混合技術)，篩選程序包括以下步驟:
Test Level S Level B
Random vibration MIL-STD-202, meth. 214,cond. I-B, 5 min/axis N/A
Thermal shock MIL-STD-202, meth. 107,cond. A-1 MIL-STD-202, meth. 107,cond. A-1
Electrical test:
input current/power
Output waveform
Output level
As specified
X
X
X
X
N/A
N/A
N/A
X
Burn-in (load) 240 h @ max. operating temperature 160 h @ max. operating temperature
Electrical test:
input current/power
Output waveform
Output level
As specified
X
X
X
X
N/A
N/A
N/A
X
Seal test MIL-STD-202, meth. 112 MIL-STD-202, meth. 112
Radiographic MIL-STD-202, meth. 209 N/A
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原廠編號 品牌供應商 型號 頻率 頻率穩(wěn)定性 頻率容差 負載電容
C16-32.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 32 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-24.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 24 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-25.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 25 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-26.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 26 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-27.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 27 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-28.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 28 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-29.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 29 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-30.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 30 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-36.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 36 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-38.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 38 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-39.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 39 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-46.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 46 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-47.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 47 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-48.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 48 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-49.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 49 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-50.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 50 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-51.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 51 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-52.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 52 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C16-53.000-8-1515-X-R Aker晶振 C16 53 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C1E-25.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 25 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-26.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 26 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-27.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 27 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-28.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 28 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-29.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 29 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-30.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 30 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-31.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 31 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-32.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 32 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-33.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 33 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-34.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 34 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-35.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 35 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-36.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 36 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-37.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 37 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-38.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 38 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-39.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 39 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-40.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 40 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-41.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 41 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-42.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 42 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-43.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 43 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-44.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 44 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C1E-45.000-20-2030-R Aker晶振 C1E 45 MHz ±30ppm ±20ppm 20pF
C16-32.000-8-3030-X-R Aker晶振 C16 32 MHz ±30ppm ±30ppm 8pF
C2E-16.000-8-1530-X-R Aker晶振 C2E 16 MHz ±30ppm ±15ppm 8pF
C1E-24.000-8-1515-R Aker晶振 C1E 24 MHz ±15ppm ±15ppm 8pF
C2E-24.000-10-1010-R Aker晶振 C2E 24 MHz ±10ppm ±10ppm 10pF
C1E-16.000-10-1010-R Aker晶振 C1E 16 MHz ±10ppm ±10ppm 10pF
C2E-25.000-10-3030-X-R Aker晶振 C2E 25 MHz ±30ppm ±30ppm 10pF
C5S-17.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 17 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-18.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 18 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-19.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 19 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-20.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 20 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-21.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 21 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-22.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 22 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-23.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 23 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-24.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 24 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-25.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 25 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-26.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 26 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-27.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 27 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-28.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 28 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-29.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 29 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-30.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 30 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-31.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 31 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-32.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 32 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-33.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 33 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-34.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 34 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-35.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 35 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C5S-36.000-18-3030-R Aker晶振 C5S 36 MHz ±30ppm ±30ppm 18pF
C2E-16.000-10-1010-R Aker晶振 C2E 16 MHz ±10ppm ±10ppm 10pF
C16-26.000-8-1520-R Aker晶振 C16 26 MHz ±20ppm ±15ppm 8pF
C1E-32.000-10-1015-X-R Aker晶振 C1E 32 MHz ±15ppm ±10ppm 10pF
C1E-24.000-10-1015-M Aker晶振 C1E 24 MHz ±15ppm ±10ppm 10pF
C1E-48.000-8-1015-X-R Aker晶振 C1E 48 MHz ±15ppm ±10ppm 8pF
C1E-18.000-10-1015-R Aker晶振 C1E 18 MHz ±15ppm ±10ppm 10pF
C2E-16.000-12-3030-X-R Aker晶振 C2E 16 MHz ±30ppm ±30ppm 12pF
C7S-8.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 8 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C5S-12.000-18-1020-R Aker晶振 C5S 12 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C3E-20.000-8-3050-X1-R Aker晶振 C3E X1 20 MHz ±50ppm ±30ppm 8pF
C3E-20.000-10-3050-X1-R Aker晶振 C3E X1 20 MHz ±50ppm ±30ppm 10pF
C3E-16.000-10-2050-X1-R Aker晶振 C3E X1 10 MHz ±50ppm ±20ppm 10pF
C3E-12.000-8-2050-X1-R Aker晶振 C3E X1 12 MHz ±50ppm ±20ppm 8pF
C2E-12.000-10-2050-X1-R Aker晶振 C2E X1 12 MHz ±50ppm ±20ppm 10pF
C2E-12.000-8-2050-X1-R Aker晶振 C2E X1 12 MHz ±50ppm ±20ppm 8pF
C3E-16.000-10-3050-X1-R Aker晶振 C3E X1 16 MHz ±50ppm ±30ppm 10pF
C2E-20.000-10-2050-X1-R Aker晶振 C2E X1 20 MHz ±50ppm ±20ppm 10pF
C3E-30.000-8-2050-X1-R Aker晶振 C3E X1 8 MHz ±50ppm ±20ppm 8pF
C3E-16.000-8-2050-X1-R Aker晶振 C3E X1 16 MHz ±50ppm ±20ppm 8pF
C7S-16.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 16 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-17.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 17 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-18.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 18 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-19.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 19 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-20.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 20 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-21.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 21 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-22.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 22 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-23.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 23 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-24.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 24 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-25.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 25 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-26.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 26 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-27.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 27 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-28.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 28 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-29.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 29 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-30.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 30 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-31.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 31 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-32.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 32 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-33.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 33 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-34.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 34 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-35.000-18-1020-R Aker晶振 C7S 35 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C7S-36.000-18-1020-R6 Aker晶振 C7S 36 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
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C7S-8.000-18-1030-X-R Aker晶振 C7S 8 MHz ±30ppm ±10ppm 18pF
C2E-12.000-18-1020-X-R Aker晶振 C2E 12 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C2E-12.000-18-1020-R Aker晶振 C2E 12 MHz ±20ppm ±10ppm 18pF
C2E-19.200-13-2030-X-R Aker晶振 C2E 19.2 MHz ±30ppm ±20ppm 13pF
C2E-32.000-13-2030-X-R Aker晶振 C2E 32 MHz ±30ppm ±20ppm 13pF
C2E-33.000-13-2030-X-R Aker晶振 C2E 33 MHz ±30ppm ±20ppm 13pF
C2E-34.000-13-2030-X-R Aker晶振 C2E 34 MHz ±30ppm ±20ppm 13pF
C2E-35.000-13-2030-X-R Aker晶振 C2E 35 MHz ±30ppm ±20ppm 13pF
C2E-36.000-13-2030-X-R Aker晶振 C2E 36 MHz ±30ppm ±20ppm 13pF

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