AXTAL Crystal成立于2003年,是由物理學(xué)家兼電子工程師BerndNeubig從之前的TELEQUARZ分離出來的.其員工擁有超過80年的石英晶體行業(yè)的累積經(jīng)驗(yàn)和專業(yè)知識.該公司完全由Bernd和BrigitteNeubig私人擁有,他們也是公司的執(zhí)行董事.該實(shí)體的法定名稱是AXTALGmbH＆Co.KG.AXTAL晶振的設(shè)施位于德國南部,靠近海德堡,在所謂的“水晶谷”地區(qū).該政府位于Lobbach鎮(zhèn),研發(fā),生產(chǎn)線和測試設(shè)施位于D-74821Mosbach的Roemerring9.
AXE3225WT是AXTAL晶振公司生產(chǎn)的一款尺寸3225mm體積非常小的SMD晶振器件,是民用小型無線數(shù)碼產(chǎn)品的最佳選擇,小體積的晶振被廣泛應(yīng)用到,手機(jī)藍(lán)牙,GPS定位系統(tǒng),無線通訊,具有高精度和高頻率的穩(wěn)定性能,非常好的減少電磁干擾的影響,是民用無線數(shù)碼產(chǎn)品最好的選擇,符合RoHS/無鉛.
如果詳細(xì)規(guī)范中沒有另外說明，AXTAL振蕩器符合以下環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)條件:

Test	IEC 60068 Part	IEC 60679-1 Clause	MIL-STD- 202G Method	MIL-STD- 810E Method	MIL-PRF- 55310D Clause	Test conditions
Sealing tests (if applicable)	2-17	4.6.2	112E		3.6.1.2	Gross leak: Test Qc, Fine leak: Test Qk
Solderability Resistance to soldering heat	2-20 2-58	4.6.3	208H 210F		3.6.52 3.6.48	Test Ta (235 ± 5)°C Method 1 Test Tb Method 1A, 5s
Shock*	2-27	4.6.8	213B	516.4	3.6.40	Test Ea, 3 x per axes 100g, 6 ms half-sine pulse
Bump*	2-29	4.6.6				Test Eb, 4000 bumps per Axes, 40g, 6 ms
Free fall*	2-32	4.6.9	203C			Test Ed procedure 1, 2 drops from 1m height
Vibration, sinusoidal*	2-6	4.6.7	201A 204D	516.4-4	3.6.38.1 3.6.38.2	Test Fc, 30 min per axes, 10 Hz~55 Hz 0.75mm; 55 Hz~2 kHz, 10g
Rapid change of temperature	2-14	4.6.5	107G		3.6.44	Test Na, 10 cycles at extremes of operating temperature range
Dry heat	2-2	4.6.14				Test Ba, 16 h at upper temperature indicated by climatic category
Damp heat, cyclic*	2-30	4.6.15				Test Db variant 1 severity b) 55°C / 95% R.H., 6 cycles
Cold	2-1	4.6.16				Test Aa, 2 h at lower temperature indicated by climatic category
Climatic sequence*	1-7	4.6.17				Sequence of 4.6.14, 4.6.15 (1st cycle), 4.6.16, 4.6.15 (5 cycles)
Damp heat, steady state*	2-3	4.6.18	103B			Test Ca, 56 days
Endurance tests - ageing - extended aging		4.7.1 4.7.2	108A		4.8.35	30 days @ 85°C, OCXO @25°C 1000h, 2000h, 8000h @85°C

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AXTAL晶振6G常用物料標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件AXE3225WT‐50‐4G_Rev.1– 40.000MHz

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